弗萊貝格PIDcon測試儀 用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺式PID測試儀

弗萊貝格X-ray Diffractometer 使用X 射線(xiàn)衍射儀XRD 進(jìn)行晶圓棒，晶圓片及晶錠的生產(chǎn)質(zhì)量控制 晶棒定向 | 晶圓片分析| 石英片 分選 定向： AT | SC | IT | TF | X | Y | Z

弗萊貝格PIDcheck測試儀 便攜式現場(chǎng)PID（電位誘導降解）測試儀，適用于不同型號和尺寸的c-Si模塊，無(wú)需拆卸，在8小時(shí)內測試（測量時(shí)間將小于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle公司合作開(kāi)發(fā)的。

弗萊貝格MDPpro晶錠壽命測量裝置 單晶 、多晶晶圓和晶錠 壽 命測量裝置 用于常規質(zhì)量控制和復雜的材料研發(fā) 硅| 化合物半導體| 氧化物| 寬帶隙材料| 鈣鈦礦| 外延層 [ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ]

弗萊貝格MDPmap單晶和多晶片壽命測試設備 用于先進(jìn)的各種復雜材料的研究 [CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge] 硅|化合物半導體|氧化物|寬帶隙材料|鈣鈦礦|外延

弗萊貝格MDPinline ingot在線(xiàn)硅錠成像設備 對高通量要求的PV工廠(chǎng)中多晶和類(lèi)單晶錠進(jìn)行電學(xué)參數測試表征，在1mm分辨率下的總測量時(shí)間少于一分鐘。

freiberg弗萊貝格MDpicts微瞬態(tài)譜儀微波探測光誘導電流瞬態(tài)譜儀對于半導體材料少子壽命，電學(xué)參數和界面陷阱等進(jìn)行非接觸和非破壞性測試