弗萊貝格PIDcon測試儀用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺式PID測試儀
更新時(shí)間：2023-06-15
弗萊貝格PIDcon測試儀
用于c-Si 太陽(yáng)能電池和微型 模塊的臺式PID測試儀
Freiberg公司與德國Halle的FraunhoferCSP公司合作開(kāi)發(fā)了一種可作為商業(yè)應用的臺式太陽(yáng)能電池和(單個(gè))組件的潛在誘導退化控制(PIDcon)的測量解決方案。
弗萊貝格PIDcon測試儀的特點(diǎn)
+ 符合IEC 62804-TS 標準
+ 易于使用的臺式設備
+ 能夠測量c-Si太陽(yáng)能電池和微型模塊
+無(wú)需氣候室
+ 無(wú)需層壓電池
+ 測量速度:小時(shí)至數天
+ 可測量參數:分流電阻、功率損耗、電導率、泄漏電流、濕度、溫度
+太陽(yáng)能電池可以在以后通過(guò)EL等進(jìn)行研究
+ 基于IP的系統允許遠程操作和技術(shù)支持從世界任何地方
c-Si太陽(yáng)電池及微型組件的生產(chǎn)與質(zhì)量控制標準試驗條件
› 電壓: up to 1.5 kV
› 溫度: 85 °C
› 測試時(shí)間: 4 hours (typical)
› 干燥條件下，不需要水
背景
2010年*報道了晶硅太陽(yáng)能組件在高壓影響下的故障。受影響的太陽(yáng)能電池顯示分流電阻度降低。這種效應被稱(chēng)為電位誘導降解（PID）。到目前為止，PID測試主要在模塊上進(jìn)行。模塊制造和氣候室測試需要大量的材料、設備和工作費用。
PIDcon是與FraunhoferCSP合作開(kāi)發(fā)的，目的是結合已建立的測試程序的優(yōu)點(diǎn)：基于模塊的PID測試等現實(shí)的PID測試條件，以及較低的時(shí)間和成本支出。
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